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Metal Impurities in Silicon- and Germanium-Based Technologies

Origin, Characterization, Control, and Device Impact, Springer Series in Materials Science 270
Springer Verlag GmbH
ISBN/EAN: 9783030067472
Umbreit-Nr.: 7843885

Sprache: Englisch
Umfang: xxxiii, 438 S., 8 s/w Illustr., 207 farbige Illust
Format in cm:
Einband: kartoniertes Buch

Erschienen am 30.01.2019
Auflage: 1/2018
€ 181,89
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