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Point Defects in Semiconductors and Insulators
Determination of Atomic and Electronic Structure from Paramagnetic Hyperfine Interactions, Springer Series in Materials Science 51
ISBN/EAN: 9783642627224
Umbreit-Nr.: 4377350
Sprache:
Englisch
Umfang: xi, 492 S., 82 s/w Illustr.
Format in cm:
Einband:
kartoniertes Buch
Erschienen am 14.09.2012
Auflage: 1/2003